| หลักการวัด | โพเทนชิโอเมตริก |
|---|---|
| อุณหภูมิกระบวนการ | -15 ถึง 80 °C (5 ถึง 176 °F) |
| เซ็นเซอร์อุณหภูมิ | กทช. 30ก |
| กระบวนการกดดัน | 0.8 ถึง 17 บาร์ (11.6 ถึง 246.5 psi) สัมบูรณ์ |
| มิติ | 12 มม. (0.47 นิ้ว) |
| หลักการวัด | โพเทนชิโอเมตริก |
|---|---|
| อุณหภูมิกระบวนการ | -15 ถึง 80 °C (5 ถึง 176 °F) |
| เซ็นเซอร์อุณหภูมิ | กทช. 30ก |
| กระบวนการกดดัน | 0.8 ถึง 17 บาร์ (11.6 ถึง 246.5 psi) สัมบูรณ์ |
| มิติ | 12 มม. (0.47 นิ้ว) |
| หลักการวัด | โพเทนชิโอเมตริก |
|---|---|
| อุณหภูมิกระบวนการ | -15 ถึง 80 °C (5 ถึง 176 °F) |
| เซ็นเซอร์อุณหภูมิ | กทช. 30ก |
| กระบวนการกดดัน | 0.8 ถึง 17 บาร์ (11.6 ถึง 246.5 psi) สัมบูรณ์ |
| มิติ | 12 มม. (0.47 นิ้ว) |
| หลักการวัด | โพเทนชิโอเมตริก |
|---|---|
| อุณหภูมิกระบวนการ | -15 ถึง 80 °C (5 ถึง 176 °F) |
| เซ็นเซอร์อุณหภูมิ | กทช. 30ก |
| กระบวนการกดดัน | 0.8 ถึง 17 บาร์ (11.6 ถึง 246.5 psi) สัมบูรณ์ |
| มิติ | 12 มม. (0.47 นิ้ว) |
| หลักการวัด | โพเทนชิโอเมตริก |
|---|---|
| อุณหภูมิกระบวนการ | -15 ถึง 80 °C (5 ถึง 176 °F) |
| เซ็นเซอร์อุณหภูมิ | กทช. 30ก |
| กระบวนการกดดัน | 0.8 ถึง 17 บาร์ (11.6 ถึง 246.5 psi) สัมบูรณ์ |
| มิติ | 12 มม. (0.47 นิ้ว) |
| หลักการวัด | โพเทนชิโอเมตริก |
|---|---|
| อุณหภูมิกระบวนการ | -15 ถึง 80 °C (5 ถึง 176 °F) |
| เซ็นเซอร์อุณหภูมิ | กทช. 30ก |
| กระบวนการกดดัน | 0.8 ถึง 17 บาร์ (11.6 ถึง 246.5 psi) สัมบูรณ์ |
| มิติ | 12 มม. (0.47 นิ้ว) |
| หลักการวัด | โพเทนชิโอเมตริก |
|---|---|
| อุณหภูมิกระบวนการ | -15 ถึง 80 °C (5 ถึง 176 °F) |
| เซ็นเซอร์อุณหภูมิ | กทช. 30ก |
| กระบวนการกดดัน | 0.8 ถึง 17 บาร์ (11.6 ถึง 246.5 psi) สัมบูรณ์ |
| มิติ | 12 มม. (0.47 นิ้ว) |
| หลักการวัด | โพเทนชิโอเมตริก |
|---|---|
| อุณหภูมิกระบวนการ | -15 ถึง 80 °C (5 ถึง 176 °F) |
| เซ็นเซอร์อุณหภูมิ | กทช. 30ก |
| กระบวนการกดดัน | 0.8 ถึง 17 บาร์ (11.6 ถึง 246.5 psi) สัมบูรณ์ |
| มิติ | 12 มม. (0.47 นิ้ว) |
| หลักการวัด | โพเทนชิโอเมตริก |
|---|---|
| อุณหภูมิกระบวนการ | -15 ถึง 80 °C (5 ถึง 176 °F) |
| เซ็นเซอร์อุณหภูมิ | กทช. 30ก |
| กระบวนการกดดัน | 0.8 ถึง 17 บาร์ (11.6 ถึง 246.5 psi) สัมบูรณ์ |
| มิติ | 12 มม. (0.47 นิ้ว) |
